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激光衍射法粒度儀采用了哪些技術(shù)和光路配置進(jìn)行樣品測(cè)量

發(fā)布日期: 2018-12-19
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激光粒度儀是集成了激光技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)、光電技術(shù)等多項(xiàng)技術(shù)的一種新型粒度檢測(cè)設(shè)備,它具有測(cè)量范圍寬、數(shù)據(jù)詳細(xì)、操作方便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域的粒度檢測(cè)。
 
實(shí)現(xiàn)對(duì)1um以下及寬粒徑范圍(幾十納米到幾千微米)的樣品的測(cè)量是激光衍射法粒度儀的技術(shù)關(guān)鍵,概況起來,目前有以下幾種技術(shù)和光路配置被采用:
 
1、多透鏡技術(shù)
多透鏡系統(tǒng)曾在二十世紀(jì)八十年代前被廣泛采用,它使用傅里葉光路配置即樣品池放在聚焦透鏡的前方,配有多個(gè)不同焦距的透鏡以適應(yīng)不同的粒徑范圍。優(yōu)點(diǎn)是設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,只需要分布于幾十度范圍的焦平面檢測(cè)器,成本較低。缺點(diǎn)是如果樣品粒徑范圍寬的時(shí)候需要更換透鏡,不同透鏡的結(jié)果需要拼合,對(duì)一些未知粒徑的樣品用一個(gè)透鏡測(cè)量時(shí)可能會(huì)丟失信號(hào)或?qū)τ谟捎诠に囎兓瘜?dǎo)致的樣品粒徑變化不能及時(shí)反映。
 
2、多光源技術(shù)
多光源技術(shù)也是采用傅里葉光路配置即樣品池在聚焦透鏡的前方,一般只有分布于幾十度角度范圍的檢測(cè)器,為了增大相對(duì)的檢測(cè)角度,使該檢測(cè)器能夠接收到小顆粒的衍射光信號(hào),在相對(duì)于光源光軸的不同角度上再配置或第二激光器。這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是只需分布于幾十度角度范圍的檢測(cè)器,成本較低,測(cè)量范圍特別是上限可以比較寬,缺點(diǎn)是分布于小角度范圍的小面積檢測(cè)器同時(shí)也被用于小顆粒測(cè)量,由于小顆粒的衍射光在單位面積上的信號(hào)弱,導(dǎo)致小顆粒檢測(cè)時(shí)的信噪比降低,這就是為什么多光源系統(tǒng)在測(cè)量范圍上限超過1500微米左右時(shí),若要同時(shí)幾微米以下小顆粒的測(cè)量,需要更換短焦距的聚焦透鏡。另外,多透鏡系統(tǒng)在測(cè)量樣品時(shí),不同的激光器是依次開啟,而在干法測(cè)量時(shí),由于顆粒只能一次性通過樣品池,只有一個(gè)光源能被用于測(cè)量,所以一般采用多透鏡技術(shù)的干法測(cè)量的粒徑下限很難低于250納米 。
 
3、多方法混合系統(tǒng)
多方法混合系統(tǒng)指的是將激光衍射法與其它方法混合而設(shè)計(jì)的粒度儀,激光衍射法部分只采用分布于幾十度角度范圍的檢測(cè)器,再輔以其它方法如PCS 等,一般幾微米以上用激光衍射法測(cè)量,而幾微米以下的顆粒用其它方法測(cè)量,理論上講粒徑下限取決于輔助方法的下限,這種方法的優(yōu)點(diǎn)是成本低,總的測(cè)量范圍較寬,但因?yàn)椴煌姆椒ㄋ蟮募训臏y(cè)量條件如樣品濃度等都不一樣,通常難以兼顧,另外由于不同方法間存在的系統(tǒng)誤差,在兩種方法的數(shù)據(jù)擬合區(qū)域往往較難得到理想的結(jié)果,除非測(cè)量前已經(jīng)知道樣品粒徑只落在衍射法范圍內(nèi)或輔助方法的范圍內(nèi)。另外多方法混合系統(tǒng)需采用兩個(gè)不同的樣品池,這對(duì)于濕法測(cè)量來講不是問題,因?yàn)闃悠房梢匝h(huán),但對(duì)干法而言樣品只能一次性通過樣品池而不能循環(huán),不能用兩種方法同時(shí)測(cè)量,因而多種方法混合系統(tǒng)在干法測(cè)量時(shí)的粒徑下限只能到幾百納米。
 
4、非均勻交叉大面積補(bǔ)償?shù)膶捊嵌葯z測(cè)技術(shù)及反傅里葉光路系統(tǒng)
非均勻交叉大面積補(bǔ)償?shù)膶捊嵌葯z測(cè)及反傅里葉光路系統(tǒng)是二十世紀(jì)九十年代后期發(fā)展起來的技術(shù),采用反傅里葉光路配置即樣品池置于聚焦透鏡的后面,這樣使檢測(cè)器在極大的角度范圍內(nèi)排列,一般真正物理檢測(cè)角度可達(dá)150度,從而使采用單一透鏡測(cè)量幾十納米至幾千微米的樣品成為可能,光路示意圖如圖 所示,在檢測(cè)器的設(shè)計(jì)上采用了非均勻交叉而且隨著角度的增大檢測(cè)器的面積也增大的排列方式,既了大顆粒測(cè)量時(shí)的分辨率也了小顆粒檢測(cè)時(shí)的信噪比和靈敏度。無需更換透鏡及輔助其它方法就可測(cè)量從幾十納米到幾千微米的顆粒,即使是干法測(cè)量,其下限也可達(dá)到0.1微米。這種方法的缺點(diǎn)是儀器的成本相對(duì)于前面的幾種方法而言偏高。
 
從激光器發(fā)出的激光束經(jīng)顯微鏡聚焦、針孔濾波和準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直后,變成直徑約10 mm的平行光束,該光束照射到待測(cè)的顆粒上,一部分光被散射,散射光經(jīng)傅里葉透鏡后,照射到廣電探測(cè)器陣列上。由于廣電探測(cè)器處在傅里葉透鏡的焦平面上,因此探測(cè)器上的任一點(diǎn)都對(duì)應(yīng)于某一確定的散射角。廣電探測(cè)器陣列由一系列同心環(huán)帶組成,每個(gè)環(huán)帶是一個(gè)獨(dú)立的探測(cè)器,能將投射到上面的散射光能線性地轉(zhuǎn)換成電壓,然后送給數(shù)據(jù)采集卡,該卡將電信號(hào)放大,在進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)后后送入計(jì)算機(jī)。
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