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常規(guī)顆粒圖像分析儀有哪些優(yōu)缺點

發(fā)布日期: 2018-01-15
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現(xiàn)有的圖像分析儀按照被測物體的運動狀態(tài),分為靜態(tài)圖像分析儀(Static Image Analysis,SIA)與動態(tài)圖像分析儀(Dynamic Image Analysis,DIA)兩大類。


靜態(tài)圖像分析儀,如顯微鏡,可精密對焦,對小顆粒測試可獲得很清晰的圖像。但對于極微量樣品,取樣誤差大,測試結果的代表性和統(tǒng)計性差;顆粒的取向受載片的限制,只能測量顆粒的一個平面投影圖像;對重疊的顆粒也只能通過數(shù)學計算的方法進行處理;同時受顯微鏡分辨距離的限制,被測試顆粒的小粒徑是有限的。


動態(tài)圖像分析儀和靜態(tài)圖像分析儀相比,測試樣品量增加,減少了取樣誤差,統(tǒng)計的代表性也相對增加;由于測試顆粒處于運動狀態(tài),取向任意,顆粒重疊的現(xiàn)象減少。但也仍存在不少缺點:

(1)顆粒移動過程中對焦,顆粒的移動速度受限;

(2)由于沒有分散,顆粒重疊現(xiàn)象仍然存在;

(3)濕法測量:循環(huán)速率低,大顆粒易沉降,且樣品量少;

(4)干法測量:盡適用于流動性非常好的顆粒的自由落體,無分散;

(5)照相頻率低(25幅/秒),測試數(shù)據(jù)少,結果的統(tǒng)計性仍然不好;

(6)沒有采用特殊的曝光設計,圖像的清晰度無;

(7)顆粒的圖像邊界模糊,結果可靠性太差。

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